| block_8742 原因調査及び調査の種類（Cause investigation and type of investigation） |
|
コード |
Extensionまたは分類名 |
分類コード |
| 1 |
XE9HD |
実際の機器又は疑わしい機器の試験（Testing of actual or suspected device） |
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| 2 |
XE7XH |
製造業者が保有する同一ロット又はバッチの機器の試験（Testing of device from same lot or batch retained by manufacturer） |
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| 3 |
XE4S0 |
ユーザーから返却された同一ロットバッチの機器の試験（Testing of device from same lot batch returned from user） |
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| 4 |
XE2ZR |
製造業者が保有する他のロットバッチの機器の試験（Testing of device from other lot batch retained by manufacturer） |
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| 5 |
XE4X1 |
ユーザーから返却された他のロット又はバッチの機器の試験（Testing of device from other lot or batch returned from user） |
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| 6 |
XE1XT |
モデルバリアントの試験（Testing of model variant） |
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| 7 |
XE8XV |
原材料又は出発原料の試験（Testing of raw or starting materials） |
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| 8 |
XE6FS |
製造業者の機器を使用した患者サンプル又は標準物質の試験（Testing of patient sample or reference material using manufacturer's device） |
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| 9 |
XE9MY |
標準法を使用した患者サンプル又は標準物質の試験（Testing of patient sample or reference material using reference method） |
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| 10 |
XE89L |
競合他社の機器を使用した患者サンプル又は標準物質の試験（Testing of patient sample or reference material using competitor's device） |
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| 11 |
XE8UH |
履歴データ分析（Historical data analysis） |
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| 12 |
XE8BM |
トレンド分析（Trend analysis） |
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| 13 |
XE7GK |
コミュニケーション又はインタビュー（Communication or interviews） |
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| 14 |
XE4KV |
製造記録の分析（Analysis of production records） |
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| 15 |
XE59M |
ユーザー又は第三者から提供されたデータの分析（Analysis of data provided by user or third party） |
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| 16 |
XE8FB |
報告した製造業者が製造していない機器（Device not manufactured by reporting manufacturer） |
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| 17 |
XE970 |
返却されなかった機器（Device not returned） |
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| 18 |
XE18W |
廃棄された機器（Device discarded） |
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| 19 |
XE5AN |
返却された不完全な機器（Incomplete device returned） |
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| 20 |
XE53L |
試験できない機器（Device not accessible for testing） |
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| 21 |
XE6Q2 |
調査の種類が未決定（Type of investigation not yet determined） |
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| 22 |
XE3TW |
入手可能な情報が不十分（Insufficient information available） |
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